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技術文章分析 | Nature Electronics 把 CPO 的整本帳攤開:從 1.4 倍的頻寬牆,到 100 fJ/bit 的單晶片終局

  • 5天前
  • 讀畢需時 26 分鐘


  • 這篇 2026 年 8 月刊在《Nature Electronics》的 review,是目前為止把 CPO 從元件、封裝一路算到系統的最完整一份帳。作者群橫跨 University of Virginia、Yonsei、UIUC、NTU Singapore、MIT,第八作者掛的是 SK hynix AI Infra Optimization Team——記憶體廠已經正式坐上光互連這張桌子。

  • 核心數字只有一個:算力每兩年成長 3.0 倍、AI 模型 8.8 倍,互連頻寬只有 1.4 倍。這就是 bandwidth wall 的定量定義,也是 CPO 唯一的存在理由。

  • 這篇 review 最有價值的地方不是「CPO 很好」,而是它把 2D 到 2.5D 到 3D TSV 到 3D hybrid bonding 到 monolithic 五個世代的 pJ/bit 與 Tbps/cm² 全部標在同一張圖上:從 10–20 pJ/bit 掉到 100 fJ/bit 以下,頻寬密度從 100 Gbps/package 拉到 50–100 Tbps/cm²,中間隔著三道牆——熱、良率、標準。

  • 本文對論文內 Figure 1–4 共 24 張子圖與 Table 1–2,逐一就地標註並拆解。想快速掃視就直接跳到你關心的那一張。

1. 這篇 review 的份量,以及它想解決的那個問題

先講清楚這不是一篇實驗論文,而是一篇 Review article,收稿於 2025 年 11 月 18 日、2026 年 7 月 8 日接受、8 月 19 日上線,刊在《Nature Electronics》Volume 9 的 853–867 頁。

Review 的價值在於「誰來寫」。這篇的作者名單值得看兩眼:Jeehwan Kim(MIT,remote epitaxy 與 2D 材料轉印的代表人物)、Kyusang Lee(UVA,薄膜異質整合)、Sang Hoon Chae(NTU)、以及掛在 SK hynix AI Infra Optimization Team 的 Seunghoon Hong。換句話說,這是一份「材料/異質整合學派」對 CPO 的完整表態,而不是光通訊圈自己人寫給自己人看的路線圖。

它想解決的問題,用一句話講完:

當運算瓶頸已經從「算得夠不夠快」變成「資料搬得夠不夠快」,互連架構如果不被徹底重新設計,電晶體微縮與邏輯吞吐量的任何進步都只會帶來邊際的系統效益。

這句話在論文開頭第二段就出現了,而且是整篇 15 頁的軸線。HBM 用 TSV 把 DRAM 疊起來,在封裝內確實做到了 multi-terabits-per-second 與 pJ/bit 等級的能效——但那個好處只存在於記憶體與邏輯的封裝邊界之內。一旦資料要離開封裝,走 PCB trace、板端連接器、DAC 銅纜,電阻與電容損耗就會隨頻率與距離急速惡化。這個「封裝內很好、封裝外很爛」的斷崖,就是整篇論文的起點。

2. Figure 1:頻寬牆的三張證據

Figure 1a:8.8 倍 vs 1.4 倍,這才是 bandwidth wall 的定量定義

這張圖展示了四條 1995 年至 2025 年的歷史成長曲線,全部正規化到各自最早的資料點:藍色是硬體運算吞吐(FLOPS)、紅色是 DRAM 頻寬(GB/s)、黃色是互連頻寬(GB/s)、灰色是 AI 模型的總訓練運算量(右軸 FLOPs)。

關鍵數字:硬體 3.0 倍/2 年、DRAM 1.6 倍/2 年、互連 1.4 倍/2 年、AI 模型 8.8 倍/2 年。圖上標了幾個錨點——AlphaGo、GPT-4.5、Grok-4 在灰色帶上,NVIDIA B300、HBM3e、NVLINK 5.0 分別落在藍、紅、黃三條線的末端。

產業意義:這是我看過對「bandwidth wall」最誠實的一張圖。它沒有說互連不進步,而是說互連進步的斜率只有算力的一半不到、只有 AI 模型需求的六分之一。斜率差距會隨時間指數放大,這代表任何靠「再多加幾條銅線」的解法都只是延後爆點。CPO 不是效能加分題,是斜率修正題。

Figure 1a:1995–2025 年運算吞吐(3.0×/2 年)、DRAM 頻寬(1.6×/2 年)、互連頻寬(1.4×/2 年)與 AI 模型訓練算力(8.8×/2 年)的成長斜率對比。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1a
Figure 1a:1995–2025 年運算吞吐(3.0×/2 年)、DRAM 頻寬(1.6×/2 年)、互連頻寬(1.4×/2 年)與 AI 模型訓練算力(8.8×/2 年)的成長斜率對比。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1a


Figure 1b:把「頻寬密度 × 能效」對「距離」畫成一條下墜線

這張圖展示了一個複合品質因子(figure of merit):頻寬密度 × 能效,單位是 (Gbps/mm) ÷ (pJ/bit),橫軸是最大互連距離(公尺),從 10⁻⁴ m 一路到 10² m 以上,並用垂直虛線切成 In-package / On-board / Off-board 三段。

關鍵數字:紅色實線是電互連的投影趨勢線,基準點是 1 Tbps/mm 的頻寬密度搭配 1 pJ/bit 的能效。線上的實測點依距離排開:In-package 是 UCIe Advanced 與 HBM(最高,約 10⁴)、On-board 是 NVLink C2C 與 PCIe Gen5、Off-board 是 PCIe Gen5 與 pluggable optics Ethernet SR4。藍色虛線是光互連的投影趨勢與 CPO 的目標區間,在遠距端明顯高於紅線;board-mounted optical backplane 則標在中段。

產業意義:這張圖是整篇 review 最該被截圖轉貼的一張。它把「光什麼時候贏過銅」從口號變成一個可以查表的交叉點——不是所有距離光都贏,而是紅線墜落的速度太快,交叉點正在往封裝內部移動。今天 UCIe Advanced 在 in-package 還遙遙領先,但 on-board 之後電互連幾乎是自由落體,這正是 CPO 把光學拉進 package 的物理理由。這個「銅牆往機架內移進來」的議題,我們在 Computex 2026 Keynote:銅牆正在移進機架 系列的討論裡談過,這張圖等於給了它一個學術版的座標。

Figure 1b:以「頻寬密度 ÷ 能耗」為品質因子,比較 In-package/On-board/Off-board 三段距離下電互連(紅線)與光互連(藍虛線)的趨勢交叉。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1b
Figure 1b:以「頻寬密度 ÷ 能耗」為品質因子,比較 In-package/On-board/Off-board 三段距離下電互連(紅線)與光互連(藍虛線)的趨勢交叉。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1b

Figure 1c:光互連的三段式部署地圖

這張圖展示了光互連在三個空間尺度上的階層式部署:最左是 CPO(微米–毫米級),畫出 HBM 與 ASIC 並排在基板上、旁邊接 photonic engine,光纖從封裝側面拉出,並標出 SerDes 與 optical–electrical conversion 的位置;中間是 intra-node(公分–公尺級),DRAMs/CPUs/GPUs 三層堆疊、用 high-speed copper cable 串接;最右是 inter-rack(公尺–公里級),server racks 之間的高速互連。

關鍵數字:三段的距離刻度是 close 到 far 的連續軸,對應論文正文的三段式描述——CPO 在微米到毫米級把寄生損耗與延遲壓下來,intra-node 覆蓋公分到公尺、連接單一運算節點內的處理器與記憶體,inter-rack 則是公尺到公里級的資料中心規模。

產業意義:這張圖的價值是幫供應鏈定位自己在哪一段。做 FAU、光引擎、interposer 的在最左段;做 DAC/AEC/背板的在中段;做 800G/1.6T 可插拔與 DCI 的在右段。論文明確指出中段(intra-node)正是目前銅纜與光學拉鋸最激烈的地方,也是 scale-up 網路的主戰場。台廠大部分的機會落在左段與中段,不在右段。

Figure 1c:光互連從封裝級(μm–mm)、節點內(cm–m)到機架間(m–km)的三段式階層部署。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1c
Figure 1c:光互連從封裝級(μm–mm)、節點內(cm–m)到機架間(m–km)的三段式階層部署。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 1c

3. Table 1:五大元件的體檢報告

這張表展示了混合式光互連鏈路中五個關鍵元件(雷射、調變器、偵測器、波導、耦合器)的基準指標、目前技術水準、整合成熟度、耦合/封裝方式與熱/操作風險。

關鍵數字

  • 元件:雷射;路線:III–V bonding;硬指標:>5 mW、線寬 ~40 kHz;成熟度與風險:Wafer bonding 推進中,對準敏感、CTE mismatch 風險

  • 元件:雷射;路線:Transfer printing;硬指標:1–5 mW、<1 MHz;成熟度與風險:實驗室級,膠合導致連續波輸出受熱限制

  • 元件:雷射;路線:Direct epitaxy;硬指標:<1 mW、1–5 MHz;成熟度與風險:早期,缺陷受限、有 drift 風險

  • 元件:調變器;路線:Si carrier depletion;硬指標:>50 GHz、multi-pJ;成熟度與風險:CMOS foundry ready,但有 tuning overhead

  • 元件:調變器;路線:Thin-film LN;硬指標:>100 GHz、sub-pJ;成熟度與風險:Wafer bonding 成熟中,fibre attach 困難

  • 元件:調變器;路線:Plasmonic/ferroelectric;硬指標:>100 GHz、<1 fJ/bit;成熟度與風險:早期,穩定性問題

  • 元件:偵測器;路線:Ge-on-Si PD;硬指標:265 GHz、0.3 A/W;成熟度與風險:Wafer scale,吸收與頻寬取捨

  • 元件:偵測器;路線:Si APD;硬指標:~40 GHz、~0.4 A/W;成熟度與風險:Wafer scale,excess noise

  • 元件:波導;路線:Silica;硬指標:<0.1 dB/m、低密度;成熟度與風險:成熟但 footprint 大

  • 元件:波導;路線:SOI;硬指標:1–3 dB/cm、高密度;成熟度與風險:CMOS roadmap,tuning overhead

  • 元件:波導;路線:SiN;硬指標:~0.1 dB/m、高密度;成熟度與風險:Back-end 相容,heater drift

  • 元件:耦合器;路線:Edge;硬指標:<1 dB、±2 μm;成熟度與風險:高良率,但對準敏感

  • 元件:耦合器;路線:Grating;硬指標:3–6 dB、±1 μm;成熟度與風險:可 wafer scale,偏振相依

  • 元件:耦合器;路線:Freeform;硬指標:1–2 dB;成熟度與風險:早期,製程複雜

產業意義:這張表最該被畫線的是耦合器那三行。Edge coupler 損耗 <1 dB 但要求 ±2 μm 對準;grating coupler 對準放寬到 ±1 μm、可做晶圓級,代價是 3–6 dB 的插入損耗與偏振相依。3 到 6 dB 是什麼概念?光功率直接掉一半到四分之三。整個 CPO 的封裝良率與 link budget 之爭,本質就在這兩行之間做取捨——這也是為什麼 SENKO 在 OCP 上把 CPO 量產瓶頸講成「那 0.15 dB」。另外注意 plasmonic/ferroelectric 那行的 <1 fJ/bit,那是目前調變器能效的理論天花板,但成熟度欄位老實寫著 early stage。

Table 1:光互連五大元件(雷射/調變器/偵測器/波導/耦合器)的基準指標、技術現況、整合成熟度與熱風險對照。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Table 1
Table 1:光互連五大元件(雷射/調變器/偵測器/波導/耦合器)的基準指標、技術現況、整合成熟度與熱風險對照。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Table 1

4. Figure 2:把一條光互連鏈路拆成七個零件

圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 2
圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 2

Figure 2 是這篇 review 的「元件教科書頁」,七張子圖分別對應一條完整鏈路上的七個環節。

Figure 2a:端到端鏈路的全景圖

這張圖展示了一條完整的高頻寬光資料傳輸鏈:左側 Tx 端由 ASIC + SerDes 組成電域,經 E/O converter 轉成光載波,再由 wavelength multiplexer 合波送進光纖;右側 Rx 端反向操作——demultiplexer 分波、O/E converter 轉回電、SerDes 還原成並行資料餵回 ASIC。

關鍵數字:圖上刻意畫了 N 組並行的 ASIC/SerDes/轉換器,對應論文正文所說的「多個光學 chiplet 並排在加速器封裝上」的實作方式。

產業意義:這張圖的用途是幫你確認自己家的產品在哪一格。台廠常見的位置:光引擎廠在 E/O 與 O/E 那兩格、被動元件廠在 multiplexer 那格、封裝廠橫跨全部。真正的高毛利在 E/O 與 mux 兩格,而那正好是目前良率最難的兩格。


Figure 2b:SerDes——那個誰都想幹掉、但誰也還沒幹掉的環節

這張圖展示了序列化器/解序列化器(Serializer/Deserializer,SerDes)的架構:左側 Tx 把多條並行資料(parallel data)壓成一條高速序列資料(serial data),右側 Rx 端反向拆回並行;下方畫出對應的波形——並行的 0/1/0/1 疊成一條時序密集的序列波形。

關鍵數字:論文正文給的是 112 Gb/s 的 SerDes 仍落在 1–2.3 pJ/bit 這個數字。相較之下矽光子發射器本身已經做到 0.7 pJ/bit。

產業意義:這格是整條鏈路裡最尷尬的環節。光的部分已經比電的部分省電了,但 SerDes 還在那裡吃掉 1–2.3 pJ/bit。這正是後面 Figure 4f「micro-LED 直接幹掉 SerDes」那條路線存在的理由,也是 Lightmatter Passage 把 4.6 pJ/bit 拆成「2.6 pJ 光學 + 約 2 pJ 共封裝 SerDes」時,後半段那個 2 pJ 為什麼那麼刺眼。


Figure 2c:NRZ vs PAM-4,用眼圖講清楚頻譜效率的代價

這張圖展示了兩種調變格式的對比:左邊 NRZ(Non-Return-to-Zero,不歸零碼)只有 0 與 1 兩個位準,眼圖是一個乾淨的大眼;右邊 PAM-4(四階脈衝振幅調變)用四個位準,眼圖疊成三個明顯較小的眼,並標出 11/10/01/00 四種符號對應。

關鍵數字:PAM-4 的頻譜效率是 NRZ 的 2 倍(同樣的鮑率傳兩倍位元),代價是噪聲餘裕(noise margin)被壓縮——三個小眼取代一個大眼。

產業意義:這張圖解釋了為什麼 DSP 與 FEC 在高速鏈路裡越吃越重。論文在後段給了一個很硬的數字:同調等化(coherent equalization)的功耗幾乎線性正比於 tap 數,從 4-tap 的約 1 pJ/bit 一路增加到 16-tap 的 5 pJ/bit 以上。換句話說,PAM-4 省下來的頻寬,有一部分是用 DSP 的電力買回來的。這也是 LPO/LRO 這類「把 DSP 拿掉」路線一直有人押注的原因。


Figure 2d:Mach–Zehnder 調變器——用干涉把電訊號寫進光

這張圖展示了馬赫–曾德爾調變器(Mach–Zehnder Modulator,MZM)的運作:右下方的連續波雷射(continuous-wave laser)送光進來,光在分岔處被分成兩條臂,上下兩臂各接電訊號輸入(Data),透過相位調變讓兩條臂在合波處產生干涉,輸出端得到已調變的強度訊號(modulated signal)。

關鍵數字:論文正文指出 MZM 的干涉式相位調變可做到高線性、頻寬超過 100 GHz,代價是 footprint 較大、限制整合密度。相對地,carrier-depletion 矽調變器(p–n 或 p–i–n 接面)CMOS 相容、可規模化,但電漿色散效應(plasma dispersion effect)在矽中效率不佳,需要更長的相位移區與更高的驅動電壓

產業意義:這張圖是理解 TFLN 為什麼被追捧的前提。同樣是 MZM 結構,換成薄膜鈮酸鋰(Thin-Film Lithium Niobate,TFLN)或鈦酸鋇(BaTiO3,BTO)這類 Pockels 效應鐵電材料,就能在 sub-volt 驅動電壓下跑到 100 GHz 以上。論文明講 TFLN 是目前整合式高速調變的 benchmark,而 BTO 的電光係數更大、適合超小尺寸低功耗調變器,但 BTO 需要在 SrTiO3 緩衝的矽上磊晶成長、溫度超過 CMOS back-end 的熱預算,仍在 pre-commercial 階段。


Figure 2e:VCSEL 與 photodiode + TIA,主動光電元件的兩端

這張圖展示了主動光電元件的一對:上半是 driver 驅動的 VCSEL(垂直共振腔面射型雷射),光從表面垂直射出(light emission from surface);下半是 photodiode 搭配 TIA(transimpedance amplifier,跨阻放大器),光被吸收(light absorption)後轉成光電流再放大成電壓訊號。

關鍵數字:Table 1 給的偵測器數字對應這格——Ge-on-Si 光偵測器 265 GHz 頻寬、0.3 A/W 響應度;矽 APD 約 40 GHz、約 0.4 A/W,靠內部增益換靈敏度但付出 excess noise 與更高偏壓的代價。

產業意義:這格是最容易被忽略但最務實的一格。論文明白寫出兩件事:第一,單片或共封裝的 photodiode–TIA 整合能減少寄生電容、提升整體能效,但需要嚴格的熱與阻抗匹配;第二,實務上短距鏈路仍以 p–i–n 加 CMOS TIA 為主,APD 與同調前端是為了延伸靈敏度與距離而探索。這意味著 VCSEL 路線並沒有出局——Furukawa 那類 1060 nm 單模 VCSEL 打 2 公里的做法,在這個框架下是合理的。


Figure 2f:微環共振器——用一個環做完路由、濾波與多工

這張圖展示了波長選擇性微環共振器(microring resonator)的三種作用:左側是波長選擇(selective to wavelength)的 add-drop 結構,中間畫出微環(Microring)與匯流波導的耦合,並在上下方各畫一組頻譜(Frequency),呈現特定波長被挑出來、其餘通過的濾波行為。

關鍵數字:微環的優勢是極致的緊湊性與整合密度,代價論文寫得很直接——熱敏感。後段給的量化是:矽微環的溫度相關波長漂移是每 K 數十 GHz,而半導體雷射的發射波長漂移是每 K 數十皮米。相對地,陣列波導光柵(Arrayed Waveguide Grating,AWG)footprint 大但熱穩定性好。

產業意義:這張圖是 DWDM 路線的技術核心,也是 CPO 熱管理問題的震央。微環要在 ASIC 隔壁工作,而 ASIC 的溫度會晃——每 K 數十 GHz 的漂移代表你必須配 heater 與閉迴路控制,而 heater 本身又耗電、又產熱。論文把這個描述為一個「destabilize 光功率與頻譜同調性的回饋迴路」。這也是為什麼 athermal 設計(SiN 或 TFLN 的無熱共振器)在論文的 outlook 裡被特別點名。


Figure 2g:Grating coupler vs edge coupler——CPO 封裝的第一道良率關卡

這張圖展示了兩種晶片對光纖的耦合策略:上半是 grating coupler(光柵耦合器),光纖從垂直方向下來(vertical fibre coupling),Si carrier 上疊 electronics 與 waveguide;下半是 edge coupler(邊緣耦合器),光纖從側面水平進入(in-plane alignment)。

關鍵數字:對應 Table 1——edge coupler <1 dB 插入損耗、±2 μm 對準容忍;grating coupler 3–6 dB、±1 μm,可 wafer-scale 但偏振相依、光譜頻寬受限。論文另外給出一個系統級數字:每一個 chip-to-fibre 介面貢獻 1–3 dB 耦合損耗

產業意義:這格是 CPO 從實驗室走到產線最痛的一格,也是台灣供應鏈最有機會卡位的一格。1–3 dB 每介面聽起來不多,但一個 CPO 封裝有數十到上百個介面,而且光纖燒毀(fibre-burn)風險會隨每通道光功率上升而變大。論文還補了一刀:外接雷射架構相對整合式光源,在同樣頻寬下要多付 1–5 dB 的 link budget 代價,而且這個代價會隨 WDM 通道數往數十通道規模擴張時變得更尖銳。


5. Figure 3:共封裝的五級跳,以及每一級的 pJ/bit 標價

圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 3
圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 3

Figure 3 是整篇 review 最有價值的一張圖,八個子圖分成兩組:a–d 是「光引擎離 SoC 多遠」的四種距離,e–h 是「PIC 與 EIC 怎麼疊」的五個世代。

Figure 3a:可插拔光模組——光在板子的邊緣,離 SoC 最遠

這張圖展示了傳統可插拔架構的剖面:SoC 在 PCB 中央,一條長長的 copper trace 橫跨板面(圖上直接標了 Far),走到板緣才接到 photonic engine,光纖從那裡出去。

關鍵數字:論文正文對這段的定量描述是——中心到板緣的公分級銅走線帶來顯著電阻損耗、頻率相依的訊號失真與功耗,而在 terabit 等級速率下,超過幾公分的板上銅走線就會產生數十 dB 的衰減

產業意義:這就是今天 800G/1.6T 可插拔的世界。它不會馬上死——論文自己也說電互連因為製造成熟度與 CMOS 相容性,在短距仍不可取代——但它的物理天花板已經被畫出來了。


Figure 3b:板載光學(OBO)——把 TRx 搬到 SoC 隔壁

這張圖展示了on-board optics 的剖面:收發器(TRx)被移到緊鄰 SoC 的位置(圖上標 Close),銅走線大幅縮短,PCB 內還嵌入了 embedded waveguide 供光路走線。

關鍵數字:論文的描述是「藉由把 PIC 與 EIC 直接共同放置在板上,降低電損耗與寄生延遲」。

產業意義:OBO 是產業已經走過並且大致放棄的一站。它的問題不在物理而在商業——縮短了銅但沒有解決可維修性與良率,同時失去了可插拔的模組化優勢。這張圖在 review 裡的功能是「承先啟後」,證明從 3a 到 3c 是一條連續的物理演化,而不是跳躍。


Figure 3c:CPO——SoC 與 TRx 共用一張 interposer

這張圖展示了共封裝光學的剖面:SoC 與 TRx 同時 packed on an interposer,interposer 再貼上 PCB,光纖直接從 TRx 拉出。這是論文對 CPO 的標準定義圖。

關鍵數字:這一步把互連長度壓進微米到毫米級。論文引用的實測是:近期的 CPO 實作已證明相對可插拔收發器可降低 50% 功耗,並具備超過 12.8 Tbps 每鏈路吞吐的可擴展性

產業意義:50% 這個數字要小心讀——它是「相對可插拔」的節省,不是絕對能效達標。看回 Table 2,Broadcom Bailly 是 6.9 pJ/bit、Davisson 是 5–7 pJ/bit,離論文設定的 sub-pJ/bit 目標還差一個數量級。CPO 第一代解決的是「省一半電」,不是「達到理論極限」。這也是為什麼 Figure 3e–g 那條往下走的曲線才是真正的路線圖。


Figure 3d:垂直整合——TRx 直接疊在 SoC 上面

這張圖展示了異質整合平台的剖面:TRx 不再與 SoC 並排,而是直接垂直堆疊在 SoC 之上(圖上用箭頭標示 vertical integration),下方仍是 interposer 與 PCB,光纖從頂部的 TRx 拉出。

關鍵數字:論文正文對這種配置的描述是「透過垂直組裝與 interposer 級的走線,達成高密度的電–光互連」。相關的 3D 頻寬密度數字在 Figure 3f 給出。

產業意義:3d 這張圖是 3c 到 3f 的橋樑,也是最挑戰熱管理的那一種。把會發光、對溫度極敏感的光子元件疊在最會發熱的邏輯晶片正上方,物理上省了距離,工程上創造了地獄。論文後面「熱–光耦合回饋迴路」那一整段,講的就是這張圖的代價。


Figure 3e:2D 與 2.5D——打線 10–20 pJ/bit,微凸塊 2–5 pJ/bit

這張圖展示了兩個世代的並排比較。上半 2D:EIC 與 PIC 並排在同一張 substrate 上,放大圖是 wire bonding(打線),右側附一張真實封裝照片。下半 2.5D:EIC 與 PIC 放在 interposer 上,放大圖是 micro-bump 與 solder alloys,右側是一張含 TSV、silicon photonics interposer、TIA/Driver 與 multi-layer organic substrate 的剖面 SEM。

關鍵數字:這是這張圖最狠的地方——每一級都直接標了 pJ/bit 與頻寬密度

  • 2D wire bonding:約 10–20 pJ/bit,約 100 Gbps per package

  • 2.5D micro-bump:約 2–5 pJ/bit,1–2 Tbps/cm²

論文正文補充:打線的頻率相依阻抗失真與電容負載,把高速應用的可達頻率限制在 30 GHz 以下;2.5D 的 micro-bump 是 5–40 μm pitch,TSV 是 0.2–5.0 μm 直徑,可支援 100 Gbps 以上傳輸。

產業意義:從 2D 到 2.5D,能效改善了 4–5 倍,頻寬密度改善了一個數量級以上。這一跳是今天已經在量產的那一跳——Broadcom Bailly 與 Davisson 都是 2.5D。對供應鏈而言,這意味著 CoWoS 級的 interposer 產能就是 CPO 第一波的實體瓶頸。這個「先進封裝變成 AI 算力守門人」的判斷,台積電在 OCP 2026 已經講白了


Figure 3f:3D TSV 與 hybrid bonding——0.1 pJ/bit 與 50 Tbps/cm² 的那一級

這張圖展示了兩種 3D 堆疊。上半 3D TSV:EIC 疊在 EIC/interposer 上,放大圖是 Cu filling 的矽穿孔,右側是 back-side TSV 的剖面 SEM。下半 3D hybrid bonding:放大圖是 metal 與 dielectric 交錯的直接鍵合界面,右側是一排 hybrid bonding pad 的 SEM。

關鍵數字

  • 3D TSV:約 0.5–2 pJ/bit,>5 Tbps/cm²

  • 3D hybrid bonding:約 0.1–0.5 pJ/bit,10–50 Tbps/cm²

正文補充:傳統 micro-bump 的 die-to-die pitch 通常 >10 μm,每顆 bump 帶來數十 femtofarad 的寄生電容;hybrid bonding 用嵌在介電層裡的直接 Cu–Cu 接觸取代,把互連長度縮到數十微米、pitch 進入次微米,wafer-to-wafer 已展示 約 400 nm,比 micro-bump pitch 小超過一個數量級。結合 TSV 垂直走線,hybrid bonding 可支援 >5 Tbps/mm² 的 3D 光子–電子堆疊頻寬密度。

產業意義:這是這篇 review 最重要的單一結論——hybrid bonding 不是良率優化,是能效的相變點。原因寫得很清楚:它消除了主宰晶粒邊界切換能量的 micro-bump 寄生電容。而且超短互連降低了高頻損耗,可以省掉 retimer 與複雜的 DSP 電路,進一步改善整體功耗——這才是 0.1 pJ/bit 的真正來源,不只是物理尺寸縮小。台廠在 hybrid bonding 的布局,未來會直接兌現在 CPO 這條線上。


Figure 3g:單片整合——100 fJ/bit 以下、50–100 Tbps/cm² 的終局

這張圖展示了單片整合(monolithic integration):EIC 與 PIC 不再是兩顆晶片,而是在同一片基板上以統一製程流程共同製造。放大圖畫出 transistor 與 waveguide 並存於同一層 Si,並標出 microring resonator;右側是真實 SEM,可見 optical bus waveguide、analogue frontend circuits 與 microring modulator 共處一片。

關鍵數字<100 fJ/bit,>50–100 Tbps/cm²。這是整張 Figure 3 的極值。

產業意義:論文對這格的立場很誠實——它是 the ultimate convergence,但取決於材料整合與製程共同最佳化的突破。目前唯一達到最高製程成熟度的是 CMOS 相容矽光子(鍺光偵測器加高速矽調變器加邏輯電晶體共製);III-V、BTO/LN、2D 半導體要進單片流程,仍受材料不相容、熱限制與製程共最佳化拖累。翻譯成產業語言:這格是 2030 年之後的事,但它是 hybrid bonding 那一格的方向指標。



Figure 3h:三張雷達圖,把五個世代的取捨一次講完

這張圖展示了三張疊在一起的雷達圖(radar chart),七個軸分別是:technology maturity、cost(low)、bandwidth、energy efficiency、thermal management、fabrication accessibility、footprint(small)。五種整合策略用不同顏色標示——2D(灰)、2.5D(深灰)、3D TSV(黃)、3D hybrid(紅)、Monolithic(藍)。

關鍵數字:形狀本身就是結論。2D/2.5D 的多邊形偏向 maturity、cost、fabrication accessibility 三個軸;3D 的多邊形往 bandwidth 與 energy efficiency 傾斜,但在 thermal management 與 fabrication accessibility 縮進去;monolithic 的藍色多邊形在 bandwidth、energy efficiency、footprint 三軸幾乎頂到外圈,但 maturity 與 cost 塌陷得最厲害。

產業意義:這張圖應該被印出來貼在每個做 CPO 決策的人桌上。它的訊息不是「哪個最好」,而是這五個世代不會互相取代,而會長期並存,各自服務不同的成本/效能區間。論文自己下的結論是:2D 提供簡單與低成本但頻寬受限;2.5D 提供中等密度與可製造性;3D 把頻寬密度與能效推到極限,代價是良率與熱複雜度;monolithic 承諾最高效能但取決於材料整合突破。這也是為什麼 CPO / NPO / XPO 三方在 OCP 上的對談結論是「這不是路線之爭」


6. Table 2:十個已經在跑的工業平台,以及它們的真實成績單

這張表展示了十個代表性的工業 CPO 與 optical I/O 平台,欄位包含架構、頻寬、延遲、能耗、整合方式與傳輸距離。

關鍵數字(原表整理):

  • 公司:Broadcom;平台:Bailly (TH5);架構:Switch CPO + ASIC;頻寬:51.2 Tbps;延遲:sub-10 ns/hop;能耗:6.9 pJ/bit(5.5 W/800G port);整合:2.5D;距離:Rack

  • 公司:Broadcom;平台:Davisson (TH6);架構:Switch CPO + ASIC;頻寬:102.4 Tbps;延遲:sub-10 ns/hop;能耗:5–7 pJ/bit(推估);整合:2.5D;距離:Rack

  • 公司:NVIDIA;平台:Quantum-X Photonics (COUPE SiP);架構:Switch CPO;頻寬:115.2 Tbps;延遲:sub-10 ns/hop;能耗:5.6 pJ/bit(9 W/1.6T port);整合:3D;距離:Rack

  • 公司:Ayar Labs;平台:TeraPHY;架構:Optical I/O chiplet (UCIe);頻寬:8 Tbps 雙向;延遲:約 10 ns chiplet-hop;能耗:<5 pJ/bit;整合:Chiplet (SiP);距離:mm–km

  • 公司:Intel;平台:OCI;架構:Optical I/O chiplet (PIC+EIC);頻寬:約 4 Tbps 雙向;延遲:<10 ns 加 ToF;能耗:5 pJ/bit;整合:Co-packaged + laser;距離:Rack

  • 公司:Ranovus;平台:Scale-up engines;架構:Optical engines (CPO);頻寬:Multi Tbps;延遲:Low;能耗:Low (laser);整合:Co-packaged;距離:未列

  • 公司:Lightmatter;平台:Passage M1000;架構:3D photonic interposer;頻寬:114 Tbps(4,000 mm²);延遲:sub-10 ns;能耗:4.6 pJ/bit wall-plug;整合:Chip-on-wafer (3D);距離:10 m–km

  • 公司:Celestial AI;平台:Photonic Fabric (PFLink);架構:Chiplet + system fabric;頻寬:14.4 Tbps;延遲:sub-10 ns;能耗:未列;整合:Chiplet + SiP;距離:>50 m

  • 公司:Avicena;平台:LightBundle;架構:Micro-LED 並行收發;頻寬:約 1 Tbps(304 ch × 3.3 Gbps);延遲:Micro-LED native;能耗:約 1 pJ/bit;整合:CMOS (16 nm) + micro-LED array;距離:<5 m

  • 公司:Microsoft;平台:MOSAIC;架構:Micro-LED 並行收發;頻寬:約 1 Tbps(460 ch × 2 Gbps);延遲:Few ns(no DSP/FEC);能耗:6.6 pJ/bit(5.3 per end);整合:CMOS + micro-LED(可插拔);距離:<50 m

產業意義:三個必須劃線的觀察。

第一,NVIDIA 是唯一一個在表上被標成 3D co-packaged 的交換機平台。Broadcom 兩代都是 2.5D。對照 Figure 3e–f 的 pJ/bit 曲線,這個架構差異的意義比頻寬數字大得多。

第二,Ayar Labs 與 Intel 的 optical I/O chiplet 走的是完全不同的商業邏輯——不是把光學塞進交換機,而是塞進 XPU,reach 從毫米一路到公里。Ayar 的 8 Tbps 雙向與 <5 pJ/bit,加上 UCIe 相容性,是 scale-up fabric 的入場券。

第三,micro-LED 那兩行是這張表最容易被忽略、但訊號最強的兩行。Avicena 的 1 pJ/bit 是整張表的能效冠軍,Microsoft MOSAIC 的 few ns 且不需要 DSP/FEC 是整張表的延遲冠軍。代價寫在正文裡:micro-LED 的發射頻譜大於 10 nm(雷射小於 1 pm),色散限制讓 reach 卡在數十公尺。但在 CPO 那個「幾公分到幾公尺」的距離帶,色散根本不是問題——這正是 Figure 4f 的伏筆。


Table 2:Broadcom、NVIDIA、Ayar Labs、Intel、Lightmatter、Celestial AI、Avicena、Microsoft 等十個工業 CPO 與 optical I/O 平台的頻寬、延遲、能耗與整合方式對照。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Table 2
Table 2:Broadcom、NVIDIA、Ayar Labs、Intel、Lightmatter、Celestial AI、Avicena、Microsoft 等十個工業 CPO 與 optical I/O 平台的頻寬、延遲、能耗與整合方式對照。圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Table 2

7. Figure 4:光子 interposer,以及對 SerDes 的死刑判決書

Figure 4 是這篇 review 的 outlook 圖,六個子圖畫的是 2030 年之後的樣子。

圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 4
圖片來源:Kim, B. et al. Nat. Electron. 9, 853–867 (2026) - Figure 4

Figure 4a:CPO 直接長在 EIC 上

這張圖展示了兩種把光學整合進 EIC 的做法並排比較:左邊是 3D integrated optics with EIC(光子層以 3D 整合疊在電子邏輯晶粒上),右邊是 monolithic integrated optics with EIC(光子與電子單片共製)。兩者下方都是 chiplets、electrical interposer 與 substrate,光纖從側邊拉出。

關鍵數字:這格對應 Figure 3d/3f/3g 的能效數字——3D 整合落在 0.1–2 pJ/bit,單片整合 100 fJ/bit 以下。

產業意義:這張圖把「CPO」這個詞的定義又往內推了一層。今天業界講 CPO 指的是「光引擎跟 ASIC 在同一個封裝裡」,這張圖講的是「光學層直接是 ASIC 的一部分」。前者是封裝廠的生意,後者是晶圓廠的生意。這個定義權的移動,決定了未來十年價值鏈往誰身上集中。


Figure 4b:光子 interposer 網路——XPU pool 與 memory pool 用光連起來

這張圖展示了光子 interposer(photonic interposer)扮演節點內與節點間網路的角色:左側是 XPU pool,右側是 memory pool,兩塊各自坐在一張 photonic interposer 上,PIC/EIC 與光纖標示在旁,兩池之間以光路連通。

關鍵數字:論文對這格的描述是「連接運算與記憶體 chiplet,橫跨 intra-node 與 inter-node 叢集」。對照 Table 2,Lightmatter Passage M1000 的 114 Tbps / 4,000 mm² 就是這個概念的第一個工業實作。

產業意義:這張圖是「記憶體解耦(memory disaggregation)」的物理基礎,也是 SK hynix 的人為什麼會出現在作者名單上的原因。如果 memory pool 可以用光跟 XPU pool 分離,HBM 那個「必須貼在旁邊」的物理約束就鬆動了——這對 HBM 是威脅還是機會,取決於誰先做出那張 interposer。Marvell 收 Celestial AI 的邏輯,也在這張圖裡。


Figure 4c:多晶片模組剖面——這張圖就是完整的規格書

這張圖展示了一個多晶片模組(multi-chip module)的完整剖面:頂部兩側是 Tx/Rx optical fibres,中間並排的是 chiplets(ASIC/CPU/HPU/HBM),下面一層是嵌入 waveguidephotonic interposer,中間貫穿 TSV,並標出 electrical signals 的走向。

關鍵數字:這格整合了前面所有數字——TSV 直徑 1–10 μm、hybrid bonding pitch 可到 約 400 nm、3D 光子–電子堆疊頻寬密度 >5 Tbps/mm²

產業意義:這是全篇最接近「產品剖面圖」的一張。它同時包含了三個目前各自獨立的供應鏈:先進封裝(TSV/hybrid bonding)、矽光子(嵌入式波導)、光纖組裝(FAU)。誰能同時交付這三件事,誰就拿到這個模組的定價權——這也是為什麼 CoWoS 與 CPO 產能的討論越來越難分開談。


Figure 4d:光學 TSV——把光垂直送上樓

這張圖展示了一個 optical TSV 的局部放大剖面:一層 photonic membrane 疊在 photonic interposer 之上,中間以一條垂直的光學穿孔連通,旁邊畫出彎曲的光路(一個 90 度轉向的波導)把水平傳輸的光導向垂直方向。

關鍵數字:論文正文說得很直接——光學 TSV 讓 photonic 元件能在堆疊層之間做低損耗光通訊,克服傳統電性 TSV 的頻寬與熱限制。可轉印的膜層厚度是「數百奈米到數微米」。

產業意義:這格是全篇最「還很遠但很關鍵」的一格。今天的 3D 堆疊,電訊號可以垂直走(TSV),光訊號不行——光只能在水平的那一層跑。一旦光學 TSV 成立,3D 堆疊就從「一層光加多層電」變成「多層光」,這才是 Figure 4e 那種立體波導網路的前提。要注意論文也明說:規模化仍要解決光學對準、損耗控制、熱管理與製造良率。


Figure 4e:3D 波導——體積式光學繞線

這張圖展示了一個立方體結構:多層 3D waveguides 堆疊嵌入 photonic interposer 內,形成一個立體的波導網路。

關鍵數字:論文對這格的描述是「支援數千個波長通道、串擾與損耗最小化的超密繞線拓撲」,並支援高密度波長多工的光學通道與可規模化的空間繞線。

產業意義:這張圖是「光學版的多層金屬繞線(BEOL)」。今天的 PIC 是平面的,繞線密度受限於平面面積;一旦波導可以疊層,光子晶片的繞線密度就會複製半導體 BEOL 那條成長曲線。對材料廠與設備廠來說,這格是最遠但最大的一塊餅——它需要的是低損耗、可多層堆疊、且與 CMOS back-end 熱預算相容的波導材料,SiN 與聚合物波導都在候選名單上。


Figure 4f:Micro-LED 陣列加光偵測器陣列——不需要 SerDes 的那條路

這張圖展示了大規模並行光互連:左邊是一片 micro-LED array,右邊是一片 photodetector arrays,兩者之間各架一片 lens array(微透鏡陣列),光在自由空間中被透鏡耦合過去。

關鍵數字:這格對應正文最硬的一組數字——800 Gbps 的 micro-LED 收發器預估功耗 3.1–5.3 W,相對主流 800 Gbps 雷射式 AOC 的 9.8–12 W,降低 56–68%;透過更密的陣列與每通道 4–8 Gbps,可進一步擴展到 1.6–3.2 Tbps。Table 2 的實測:Avicena LightBundle 304 通道乘以 3.3 Gbps 約 1 Tbps、1 pJ/bit,Microsoft MOSAIC 100 通道原型於 20 公尺無誤碼、每通道 2 Gbps,預測可擴展到 460 通道、800 Gbps

產業意義:這是整篇 review 最反直覺、也最值得放進 watchlist 的一格。micro-LED 路線的邏輯不是「光比較快」,而是「頻道多到不需要 SerDes」——每通道只跑 2–8 Gbps,慢到根本不需要高速序列化、不需要 DSP、不需要 FEC,於是 Figure 2b 那個吃掉 1–2.3 pJ/bit 的環節被整個拿掉。論文自己的結論是:這類系統最終可達到 multi-terabit 級的晶片間頻寬與 femtojoule-per-bit 級能效,是傳統架構無法企及的效能指標。代價是距離——但在 CPO 那個尺度,距離本來就不是問題。


8. 三道還沒過的牆:熱、良率、標準

論文的 Challenges 章節寫得比多數 review 誠實,值得單獨拉出來。

第一道牆:熱–光耦合的正回饋迴路。 半導體雷射的發射波長隨溫度漂移 每 K 數十皮米,矽微環的共振頻率漂移 每 K 數十 GHz。而 CPO 讓雷射與 ASIC 在同一個熱封套裡工作,局部溫度波動會降低量子效率、推動波長漂移,形成一個同時破壞光功率與頻譜同調性的回饋迴路。更麻煩的是 DSP、FEC 與熱調控本身也是耗電源頭——功耗越大越熱、越熱越需要主動冷卻、冷卻又耗更多電,論文直接稱之為 adverse thermal–power feedback loop,並指出這會讓系統級能效在鏈路頻寬擴張時「比鏈路本身退化得更快」。

第二道牆:光增益與封裝良率。 主要障礙是把雷射與半導體光放大器這類 III-V 增益介質整合進矽平台。外接雷射模組仍是務實解,但受限於體積、對準容忍度與高耦合損耗。Wafer/die-scale bonding 是最成熟的整合路徑,但良率損失、缺陷密度與製程複雜度持續阻礙規模化。Micro-transfer printing 是互補解,論文點名 INSPIRE 專案的 InP-on-SiN 作為代表,也提到 InGaAs/InP 光偵測器已成功轉印到 SiN 平台。封裝端則卡在次微米對準精度必須在高產能組裝下維持,加上 CTE mismatch 帶來的分層與長期效能漂移。

第三道牆:生態系碎片化。 這是我認為最被低估的一段。論文指出光子代工平台之間的材料組、元件庫、製程參數與封裝相容性差異極大,而且光子製程規則常常偏離既有的 CMOS 製造標準,抑制了電–光共同整合。對比 EIC 那邊有統一的設計流程、成熟的 EDA 與長期 roadmap,光子這邊「缺乏晶圓級封裝標準、電–光 EDA 與可靠度驗證協定的收斂」,被論文明確點名為 CPO 進入 HPC 基礎設施的關鍵延遲因素。

順帶一提,glass interposer 在論文裡被寫成 2.5D 的有力替代方案,數字也給得很具體:傳播損耗低於 0.05 dB/cm,比矽低一個數量級;TGV 直徑可低於 30 μm、深寬比超過 5:1、pitch 接近 100 μm;300 mm 玻璃晶圓上的 stepper 微影已展示 約 0.5 μm 的特徵解析度;並已有 102.4 Tbps 資料中心交換機的驗證。但三道量化門檻仍在:CTE mismatch(一般鈉鈣玻璃約 9 ppm/K、矽約 2.6 ppm/K,顯示級硼矽玻璃 3.2–3.6 ppm/K 才把 die 與 substrate 剪應力降到三倍以上改善)、TGV 的機械穩定性與製造、以及大面積上的次微米圖案化。

9. 產業連結:這篇 review 對供應鏈的三個實際意義

第一,先進封裝就是 CPO 的節流閥。 Figure 3e–g 那條從 10–20 pJ/bit 到 100 fJ/bit 以下的曲線,每一級的名字都是封裝技術:wire bond、micro-bump、TSV、hybrid bonding、monolithic。這意味著 CPO 的世代推進速度,上限被封裝技術的量產成熟度綁死,而不是被光學元件綁死。做 hybrid bonding、TGV、FOWLP 的公司,實質上是在做 CPO 的節奏控制器。

第二,耦合與 FAU 是最短的木板。 Table 1 那三行耦合器數字(<1 dB / 3–6 dB / 1–2 dB)與正文的「每介面 1–3 dB」「外接雷射多付 1–5 dB link budget」,把 CPO 的良率問題定位得非常清楚。這一段的競爭者名單相對短、技術壁壘高、且與整機廠綁定深,是台灣供應鏈少數能拿到定價權的環節。

第三,micro-LED 與光子 interposer 是兩張該放進 watchlist 的長期票。 前者(Figure 4f 加 Table 2 的 Avicena/Microsoft)攻的是 SerDes 這個能效毒瘤,1 pJ/bit 已經是實測;後者(Figure 4b/4c)攻的是記憶體與運算的物理解耦,Lightmatter Passage M1000 的 114 Tbps / 4,000 mm² 是第一個工業級樣本。兩條路線都還沒進主流視野,但論文用整個 outlook 章節在替它們背書。

至於整條光通訊與 CPO 供應鏈的完整地圖,可以搭配 2026 AI 基建必看:光通訊與 CPO 產業鏈全圖 一起看,這篇 review 的每一格幾乎都能在那張圖上找到對應的廠商。

10. 總結

這篇 review 真正的貢獻,不是宣告 CPO 會贏——那件事產業界早就用訂單投過票了。它的貢獻是把 CPO 從一個模糊的架構名詞,變成一條可以量化、可以排序、可以定價的技術階梯

10–20 pJ/bit(2D 打線)到 2–5 pJ/bit(2.5D 微凸塊)到 0.5–2 pJ/bit(3D TSV)到 0.1–0.5 pJ/bit(3D hybrid bonding)到 100 fJ/bit 以下(單片整合)

今天的工業界站在第二格與第三格之間:Broadcom 的 Bailly 與 Davisson 是 2.5D,NVIDIA 的 Quantum-X Photonics 是 3D,實測能效都還在 5–7 pJ/bit——距離論文設定的 sub-pJ/bit 目標,還隔著整整一個數量級,以及三道牆

所以如果只帶走一句話:CPO 的競賽已經不在「光學做不做得出來」,而在「封裝能不能量產到那一級」。 Figure 3h 那三張雷達圖說得最白——2D、2.5D、3D、單片不會互相取代,它們會長期並存,各自服務不同的成本與效能區間。真正該追蹤的不是誰先發表 CPO,而是誰先把 hybrid bonding 的良率做到能出貨,因為那才是 pJ/bit 曲線上真正的相變點。

至於那兩張還沒被主流定價的長期票——micro-LED 的免 SerDes 架構、以及光子 interposer 的記憶體解耦——它們現在看起來很遠,但這篇 review 用 Figure 4 的六張圖告訴你:寫 outlook 的人已經把賭注押在那裡了。

參考資料

  1. Kim, B., Choi, S. H., Zograf, G., Yoo, Y. J., Baek, Y., Kim, S., Kim, J., Kim, J., Chae, S. H., Kim, H., Hong, S. & Lee, K. Co-packaged optics for high-performance computing and artificial intelligence. Nature Electronics 9, 853–867 (2026). DOI: 10.1038/s41928-026-01681-6(Review article,2025 年 11 月 18 日收稿、2026 年 7 月 8 日接受、2026 年 8 月 19 日線上發表)

  2. 作者單位:University of Virginia、Yonsei University、University of Illinois Urbana-Champaign、Nanyang Technological University Singapore、MIT Research Laboratory of Electronics、SK hynix Inc.(AI Infra Optimization Team)

  3. 本文引用之元件與平台數據,均出自該論文之 Figure 1–4、Table 1(第 859 頁)與 Table 2(第 862 頁);Table 2 中 Broadcom Bailly(Tomahawk 5,2024 年 3 月)與 Davisson(Tomahawk 6,2025 年 10 月)為公司產品發表資料,其餘平台數據依論文原表所附參考文獻編號。

  4. 圖片版權說明:論文 Figure 3e 之面板分別依 CC BY 4.0 與 CC BY NC ND 授權重製;Figure 3f、3g 之面板經 IEEE 與 Springer Nature 許可改作。轉載使用時請依原始授權標註。

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